Система визуализации и анализа структуры нанообъектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP
Год: 2012
Страна: Нидерланды
Производитель: FEI Company
Модель: Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP [27943]
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47
Год: 2007
Страна: Россия
Производитель: NT-MDT
Модель: Solver P47

Система для измерения аналоговых и цифровых телевизионных сигналов Schomandl ADAM3000
Модель: Schomandl ADAM3000




