Размер
A A A
Цвет
Ц Ц Ц Ц Ц
Разрядка
ИИ И И И И
Изображения
нет Ч/Б Цв.
20 апреля 2024 | неделя четная

Наука

НИЛ электронной микроскопии №2

Лаборатория является структурным подразделением отдела лазерной физики и нанотехнологий Физико-технического института. 

 

Колесников Сергей Сергеевич

технический руководитель

аудитория: Технопарк ( ул. Игошина 1А)-110 , Технопарк ( ул. Игошина 1А)-112
телефоны: +7 (3952) 40-59-03
e-mail: kss11_74@mail.ru

научный руководитель

аудитория: Технопарк ( ул. Игошина 1А)-112
телефоны: +7 (3952) 40-59-03



Специализация:

 изучение физико-химических свойств вещества при помощи электронной сканирующей с разрешением до 5 нм и просвечивающей с разрешением до 0,14 нм микроскопии, ионного травления с низким уровнем повреждения вещества, системы энергодисперсионного анализа элементного состава вещества, системы дифракционного анализа параметров кристаллической решетки вещества. 
Исследования физико-механических свойств и структур материалов

применительно ко всем основным фундаментальным и прикладным инженерным направлениям в рамках НИУ.


Уникальность лаборатории:

Совокупность приборного оборудования в составе сканирующего электронного микроскопа, просвечивающего электронного микроскопа и пробоподготовки уникальна по имеющимся возможностям и не имеет аналогов на территории от Восточной Сибири до Дальнего Востока. 
Уникальность НИЛ для нашего региона заключается в том, что лаборатория обладает одновременно и сканирующим и просвечивающим электронным микроскопом.

Оборудование лаборатории:

  • сканирующий электронный микроскоп JIB 4500 с несколькими пучками для обработки образцов (препарирования) и наблюдения, оснащённый как растровым электронным микроскопом, в котором используется электронная пушка с эмиттером из LaB6, обеспечивающая высокое разрешение и длительный срок её эксплуатации, так и устройством со сфокусированным ионным пучком с высоким разрешением и большой скоростью обработки
  • просвечивающий электронный микроскоп Tecnai™ G² F20 с отличными характеристиками формирования изображений в режимах ПЭМ, СПЭМ и наноанализа, сверхвысоким вакуумом, высокой пространственной когерентностью, полной линейкой пробоподготовки, информационным пределом < 0,12 нм и увеличением 25x–1,000 kx (ПЭМ) 150x–230 Mx (СПЭМ)
Эффективность приборов повышается наличием анализаторов EDS (энергодисперсионный рентгеновский спектрометр) 

Контактная информация:

664074, г. Иркутск, ул. Игошина 1а, к. 112; тел.: (3952) 405903 
E-mail: kvv@istu.edu