НИЛ электронной микроскопии №2
Лаборатория является структурным подразделением отдела лазерной физики и нанотехнологий Физико-технического института.
технический руководитель
аудитория: Технопарк ( ул. Игошина 1А)-110 , Технопарк ( ул. Игошина 1А)-112
телефоны: +7 (3952) 40-59-03
e-mail: kss11_74@mail.ru
научный руководитель
аудитория: Технопарк ( ул. Игошина 1А)-112
телефоны: +7 (3952) 40-59-03
Специализация:
изучение физико-химических свойств вещества при помощи электронной сканирующей с разрешением до 5 нм и просвечивающей с разрешением до 0,14 нм микроскопии, ионного травления с низким уровнем повреждения вещества, системы энергодисперсионного анализа элементного состава вещества, системы дифракционного анализа параметров кристаллической решетки вещества.
Исследования физико-механических свойств и структур материалов
применительно ко всем основным фундаментальным и прикладным инженерным направлениям в рамках НИУ.
Уникальность лаборатории:
Совокупность приборного оборудования в составе сканирующего электронного микроскопа, просвечивающего электронного микроскопа и пробоподготовки уникальна по имеющимся возможностям и не имеет аналогов на территории от Восточной Сибири до Дальнего Востока.
Уникальность НИЛ для нашего региона заключается в том, что лаборатория обладает одновременно и сканирующим и просвечивающим электронным микроскопом.
Оборудование лаборатории:
- сканирующий электронный микроскоп JIB 4500 с несколькими пучками для обработки образцов (препарирования) и наблюдения, оснащённый как растровым электронным микроскопом, в котором используется электронная пушка с эмиттером из LaB6, обеспечивающая высокое разрешение и длительный срок её эксплуатации, так и устройством со сфокусированным ионным пучком с высоким разрешением и большой скоростью обработки
- просвечивающий электронный микроскоп Tecnai™ G² F20 с отличными характеристиками формирования изображений в режимах ПЭМ, СПЭМ и наноанализа, сверхвысоким вакуумом, высокой пространственной когерентностью, полной линейкой пробоподготовки, информационным пределом < 0,12 нм и увеличением 25x–1,000 kx (ПЭМ) 150x–230 Mx (СПЭМ)
Эффективность приборов повышается наличием анализаторов EDS (энергодисперсионный рентгеновский спектрометр)
Контактная информация:
664074, г. Иркутск, ул. Игошина 1а, к. 112; тел.: (3952) 405903
E-mail:
kvv@istu.edu