- Отличные характеристики формирования изображений в режимах ПЭМ , СПЭМ и наноанализа
- Сверхвысокий вакуум
- Высокая пространственная когерентность благодаря ультрастабильному источнику Шоттки
- Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения обеспечивает разброс энергии менее 0.7 эВ
- ускоряющее напряжение до 200 кВ
- Разрешение по точкам0,19 нм
- Информационный предел < 0,12 нм
- Разрешение в режиме STEM0,14нм
- Источник электронов20 - 200 кВ
- Увеличение25 x - 1,000 kx (ПЭМ) 150 x - 230 Mx (СПЭМ)
Характеристики
Модель | FEI TECNAI g2-f20 |