Сотрудники ИРНИТУ зарегистрировали в Федеральной службе по интеллектуальной собственности (Роспатент) программу для морфологического анализа цифровых микроизображений. Авторами программы являются руководитель инновационно-технологического центра Физико-технического института ИРНИТУ Виктор Кондратьев, а также сотрудники университета Михаил Каташевцев и Иван Сысоев.
По информации авторов, программа позволяет провести морфологический анализ цифрового микроизображения, подсчитать количество характерных объектов и областей, оценить их форму, площадь, размеры и другие геометрические характеристики. Таким образом, можно построить классификацию объектов.
Кроме того, существует возможность просмотра результатов в виде графиков и диаграмм. Выгрузка результатов анализоа в виде отчетов происходит в один из внешних форматов файлов (csv, xlsx). Язык программирования – Java, Python.
«Созданная программа может применяться во всех отраслях, где используется цифровая микроскопия. Перспективно ее применение и в учебном процессе по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» Физико-технического института ИРНИТУ», - сообщил И. Сысоев.
Актуальность зарегистрированной программы для ЭВМ обусловлена тем, что научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии ИРНИТУ оснащена уникальным оборудование. Так, например, просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 20F S-TWIN FEI высокого разрешения стоимостью 75 млн рублей позволяет рассмотреть структуру веществ на уровне атомов. Оборудование было приобретено в рамках реализации программы Национального исследовательского университета по направлению «Индустрия наносистем и материалов». Это единственный на территории Сибири и Дальнего Востока микроскоп, способный регистрировать объекты размером в миллиардные доли метра. Кроме того Физико-технический институт имеет в своем арсенале сканирующие зондовые микроскопы, приборы для изучения поверхностей различных объектов с высоким разрешением, электронный микроскоп (JIB-4500) с электронной и ионной пушками, который исследует вещество электронным пучком в отраженных лучах. Работая в комплексе, данные микроскопы позволяют решать важнейшие задачи, связанные с исследованиями веществ на наноуровне.
